Institutional Repository of Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, China
| 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置; 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置 | |
张志荣 ; 董凤忠; 夏滑; 庞涛; 吴边; 王高旋; 崔小娟
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| 2014-12-02 | |
| 专利权人 | 中国科学院 |
| 公开日期 | 2014-12-02 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 申请日期 | 2013 |
| 申请号 | 201310039844.2 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/12582 |
| 专题 | 中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张志荣,董凤忠,夏滑,等. 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置, 一种用于积分腔光谱技术同位素分析的温度精确控制装置[P]. 2014-12-02. |
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