HFCAS OpenIR  > 中科院安徽光学精密机械研究所
一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用
甘婷婷; 张玉钧; 殷高方; 赵南京; 刘建国; 刘文清
2016
专利权人中国科学院合肥物质科学研究院
授权国家中国
专利类型发明专利
专利号201410616682.9
语种中文
文献类型专利
条目标识符http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/33934
专题中科院安徽光学精密机械研究所
作者单位中国科学院安徽光学精密机械研究所, 合肥 230031
推荐引用方式
GB/T 7714
甘婷婷,张玉钧,殷高方,等. 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用. 201410616682.9[P]. 2016-01-01.
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