Institutional Repository of Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, China
| 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用 | |
甘婷婷 ; 张玉钧; 殷高方; 赵南京; 刘建国; 刘文清
| |
| 2016 | |
| 专利权人 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 专利号 | 201410616682.9 |
| 语种 | 中文 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/33934 |
| 专题 | 中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所, 合肥 230031 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 甘婷婷,张玉钧,殷高方,等. 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标准品的制备装置及其应用. 201410616682.9[P]. 2016-01-01. |
| 条目包含的文件 | 下载所有文件 | |||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 一种采用X射线荧光光谱检测重金属的薄膜标（582KB） | 专利 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | ||
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