Institutional Repository of Chinese Acad Sci, Inst Solid State Phys， Hefei 230031, Anhui, Peoples R China
| Polarity Analysis of Self-Seeded Aluminum Nitride Crystals Grown by Sublimation | |
| QIFENG HAN; CHENGHONG DUAN; CHANGJIAN JI; KAI QIU | |
| 2008 | |
| 发表期刊 | Journal of ELECTRONIC MATERIALS,
 |
| 合作性质 | 其它 |
| 收录类别 | 其他 |
| 语种 | 中文 |
| WOS记录号 | WOS:000257392500005 |
| 引用统计 | |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/3477 |
| 专题 | 中科院固体物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | QIFENG HAN,CHENGHONG DUAN,CHANGJIAN JI,et al. Polarity Analysis of Self-Seeded Aluminum Nitride Crystals Grown by Sublimation[J]. Journal of ELECTRONIC MATERIALS,,2008(37). |
| APA | QIFENG HAN,CHENGHONG DUAN,CHANGJIAN JI,&KAI QIU.(2008).Polarity Analysis of Self-Seeded Aluminum Nitride Crystals Grown by Sublimation.Journal of ELECTRONIC MATERIALS,(37). |
| MLA | QIFENG HAN,et al."Polarity Analysis of Self-Seeded Aluminum Nitride Crystals Grown by Sublimation".Journal of ELECTRONIC MATERIALS, .37(2008). |
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