Knowledge Management System of Hefei Institute of Physical Science，CAS
| 薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响 | |
| 邹春梅; 左长明; 路胜博; 催旭梅; 姬洪 | |
| 2007 | |
| 发表期刊 | 功能材料与器件学报
 |
| 学科领域 | 纳米科技与材料物理 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/4897 |
| 专题 | 全文传递库 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 邹春梅,左长明,路胜博,等. 薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响[J]. 功能材料与器件学报,2007,13(4). |
| APA | 邹春梅,左长明,路胜博,催旭梅,&姬洪.(2007).薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响.功能材料与器件学报,13(4). |
| MLA | 邹春梅,et al."薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电流密度的影响".功能材料与器件学报 13.4(2007). |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 薄膜厚度对YBCO超导薄膜微结构及临界电（447KB） | 开放获取 | 使用许可 | 浏览 下载 | |||
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