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| 托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为 | |
| 其他题名 | Runaway electron behaviors in current ramp-up phase in Tokamak |
卢洪伟1; 胡立群2 ; 林士耀2; 周瑞杰2; 罗家融1; 钟方川1
| |
| 2011 | |
| 发表期刊 | 强激光与粒子束
 |
| ISSN | 1001-4322 |
| 摘要 | 分析了电流爬升阶段等离子体密度和电流爬升率对逃逸电子行为的影响，研究了低杂波辅助电流驱动条件下的逃逸电子辐射行为。结果发现：电流爬升阶段等离子体密度的大小严重影响了电流爬升阶段甚至电流平顶阶段逃逸电子的行为，较低的等离子体密度将会导致放电过程中比较强的逃逸电子辐射；低能逃逸电子辐射随着电流爬升率的增大而增强；低杂波辅助电流爬升可以有效地节约装置的伏秒数；降低放电过程中的环电压，可有效抑制逃逸电子的产生。 |
| 其他摘要 | Effects of plasma density and current ramp up rate on runaway electrons is investigated in current ramp up phase. It is found that higher density and lower current ramp-up rate can reduce generation of runaway electrons in current ramp up phase, even in current flat-top phase. Low plasma density will result in hard runaway electrons emission. I.ower hybrid wave （LHW） can drive plasma current in order to reduce loop voltage and save volt-second product of Tokamak in current ramp up phase. Runaway electrons can also be restrained because of reduced loop voltage. |
| 关键词 | 托卡马克 电流爬升 逃逸电子 阈值速度 密度 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:4307272 |
| 引用统计 | |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/52046 |
| 专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 作者单位 | 1.东华大学应用物理系 2.中国科学院等离子体物理研究所 3.中国科学院等离子体物理研究所 4.中国科学院等离子体物理研究所 5.东华大学应用物理系 6.东华大学应用物理系 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卢洪伟,胡立群,林士耀,等. 托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为[J]. 强激光与粒子束,2011,023. |
| APA | 卢洪伟,胡立群,林士耀,周瑞杰,罗家融,&钟方川.(2011).托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为.强激光与粒子束,023. |
| MLA | 卢洪伟,et al."托卡马克等离子体电流爬升阶段逃逸电子行为".强激光与粒子束 023(2011). |
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