激发光强度对纳米ZnO荧光谱的影响规律和起因

HFCAS OpenIR

	激发光强度对纳米ZnO荧光谱的影响规律和起因
	2008-01-01
发表期刊	中国科学：G辑
ISSN	1672-1780
摘要	采用气相法、溶液法和水热法3种不同的合成策略分别制备了四角状、棒状和片状等ZnO纳米结构．荧光测试表明，随激发光强度的变化这些纳米结构的荧光谱出现了类似的、有规律的反常变化．随激发光强度的增大，绿光峰位出现轻微的蓝移，半峰宽变宽，而强度先升高后降低；紫外光峰位发生明显的红移，半峰宽和强度出现了与绿光相似的变化规律；另外，绿峰和紫外峰的强度比不断降低．研究结果表明这种现象的起因可归结于激光的热效应和纳米结构对热效应的敏感性．
关键词	ZnO 纳米结构荧光谱激发光强度热效应
收录类别	CSCD
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:3433594
引用统计
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/60140
专题	中国科学院合肥物质科学研究院
推荐引用方式 GB/T 7714	. 激发光强度对纳米ZnO荧光谱的影响规律和起因[J]. 中国科学：G辑,2008,038.
APA	(2008).激发光强度对纳米ZnO荧光谱的影响规律和起因.中国科学：G辑,038.
MLA	"激发光强度对纳米ZnO荧光谱的影响规律和起因".中国科学：G辑 038(2008).