托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究

HFCAS OpenIR

	托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究
其他题名	Measuring tokamak plasma impurity density by spectroscopic method
	2016-01-01
发表期刊	核技术
ISSN	0253-3219
摘要	本文介绍了基于托卡马克等离子体被动光谱诊断获得杂质密度的方法。通过被动光谱诊断测量获得杂质线辐射的空间多道弦积分强度分布,利用强度标定系数转换为绝对光亮度分布;通过测量弦与等离子体位形,将弦积分的强度分布反演变换为径向体发射率。根据线辐射强度激发截面求出对应电离态的离子密度,最后采用杂质输运程序模拟计算得出总密度分布。以东方超环(Experimental Advanced Superconducting Tokamak, EAST)托卡马克装置上软X射线-极紫外光谱(Soft X-ray and Extreme Ultraviolet Spectrometers, XEUV)诊断测量到的Mo XXIX?Mo XXXII为例,描叙了获得Mo杂质密度分布的过程,获得的总误差小于10%。
关键词	托卡马克被动光谱诊断体发射率杂质输运杂质密度
收录类别	CSCD
语种	中文
CSCD记录号	CSCD:5634474
引用统计
文献类型	期刊论文
条目标识符	http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/61014
专题	中国科学院合肥物质科学研究院
推荐引用方式 GB/T 7714	. 托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究[J]. 核技术,2016,39.
APA	(2016).托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究.核技术,39.
MLA	"托卡马克等离子体杂质密度的光谱法测量研究".核技术 39(2016).