Knowledge Management System of Hefei Institute of Physical Science,CAS
基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统 | |
其他题名 | Parameter Measurement System of PCR Chip Based on Sub-pixel Edge Detection |
2014-01-01 | |
发表期刊 | 仪表技术与传感器 |
ISSN | 1002-1841 |
摘要 | 针对PCR芯片几何参数的高精度测量需求,设计了基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统.该系统以机器视觉系统为硬件平台,首先采用LOG算子对采集图像进行像素级初定位,通过Hough变换获得图像边缘方向;然后建立坐标系模型,利用灰度插值法获取新的亚像素边缘点;最后在亚像素边缘方向上进行高斯拟合精确定位.试验结果表明:该系统边缘定位精度高,且具有方向不变性,能够满足PCR芯片的检测要求. |
其他摘要 | Aimed at high-precision measurement requirement of the PCR chip, a measurement system based on machine vision with sub-pixel edge detection was designed. LOG operator was used to locate image on the level of pixel. Hough transform and gray interpolation come in handy to achieve image edges in the coordinate system model and sub-pixel points of the edge. Experimental results show that this system has rotational invariance and realizes edge precise detection to satisfy measurement of the PCR chip. |
关键词 | 机器视觉 PCR芯片 边缘检测 亚像素 高斯拟合 |
收录类别 | CSCD |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:5091931 |
引用统计 | |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/69562 |
专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | . 基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统[J]. 仪表技术与传感器,2014,000. |
APA | (2014).基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统.仪表技术与传感器,000. |
MLA | "基于亚像素边缘检测的PCR芯片参数测量系统".仪表技术与传感器 000(2014). |
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