Institutional Repository of Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, China
A scatterometer for measuring the polarized bidirectional reflectance distribution function of painted surfaces in the infrared | |
Feng Weiwei; Wei qingnong | |
2008 | |
发表期刊 | Infrared Physics & Technology |
学科领域 | 环境光学监测技术 |
WOS记录号 | WOS:000261114700013 |
引用统计 | |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/8374 |
专题 | 中科院安徽光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Feng Weiwei,Wei qingnong. A scatterometer for measuring the polarized bidirectional reflectance distribution function of painted surfaces in the infrared[J]. Infrared Physics & Technology,2008,51. |
APA | Feng Weiwei,&Wei qingnong.(2008).A scatterometer for measuring the polarized bidirectional reflectance distribution function of painted surfaces in the infrared.Infrared Physics & Technology,51. |
MLA | Feng Weiwei,et al."A scatterometer for measuring the polarized bidirectional reflectance distribution function of painted surfaces in the infrared".Infrared Physics & Technology 51(2008). |
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