实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台

	实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台; 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台
	殷绍唐; 王爱华; 仇怀利; 刘晓静; 许国志
	2003
专利权人	中国科学院安徽光学精密机械研究所
公开日期	2013-01-16
授权国家	中国
专利类型	发明
申请日期	2001
专利号	1388368
申请号	01113657.X
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/9929
专题	中科院安徽光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	殷绍唐,王爱华,仇怀利,等. 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台, 实时测量高温熔体法生长晶体固/液界面层结构的方法和高温热台. 1388368[P]. 2003-01-01.

条目包含的文件		下载所有文件
文件名称/大小	文献类型	版本类型	开放类型	使用许可
01113657-实时测量高温熔体...（355KB）			开放获取	使用许可	浏览下载