Institutional Repository of Anhui Institute of Optics and Fine Mechanics, Hefei Institutes of Physical Science, Chinese Academy of Sciences, Hefei, Anhui 230031, China
| 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件; 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件 | |
毛庆和 ; 廖艳林
| |
| 2008 | |
| 专利权人 | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 2013-01-18 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 申请日期 | 2008 |
| 专利号 | 101281134 |
| 申请号 | 200810100564.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/9988 |
| 专题 | 中科院安徽光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 毛庆和,廖艳林. 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件, 纳米结构持久性有毒物质检测方法及器件. 101281134[P]. 2008-01-01. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 200810100564-纳米结构持久性（285KB） | 开放获取 | 使用许可 | 浏览 下载 | |||
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