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样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究 期刊论文
光谱学与光谱分析, 2016, 卷号: 36, 期号: 12, 页码: 4039-4044
作者:  甘婷婷;  张玉钧;  赵南京;  殷高方;  肖 　 雪;  章 　 炜;  刘建国;  刘文清
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