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Microstructure evolution of pure tungsten after low-energy and high-fluence He+ implantation assessed by synchrotron grazing incidence X-ray diffraction 期刊论文
JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, 2021, 卷号: 544
作者:  Huang, W. J.;  Sun, M.;  Yang, J. F.;  Wen, W.;  Xie, Z. M.;  Zhang, L. C.;  Liu, R.;  Chen, C. A.;  Jiang, Y.;  Wang, X. P.;  Wu, X. B.;  Fang, Q. F.
收藏  |  浏览/下载：63/0  |  提交时间：2021/03/15
Helium ion implantation  Tungsten  Synchrotron X-Ray diffraction  Nanoindentation