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Ultraviolet Bidirectional reflectance distribution functionn measurement and analysis of typical roughness surface 会议论文
Proc. of SPIE Vol. 7855 78551J-1, Beijing,China, 2010-10-18
作者:  Bai Lu;  Zhang Han-lu;  Cao Yun-hua;  Li Hai-ying;  Wu Zhen-sen;  Wang Shi-mei
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