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Experimental investigation of sheath effects on I-V traces of strongly electron emitting probes 期刊论文
PLASMA SOURCES SCIENCE & TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 29
作者:  Yip, Chi-Shung;  Jin, Chenyao;  Zhang, Wei;  Xu, Guo Sheng;  Hershkowitz, Noah
收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2020/11/26
sheaths  plasma diagnostics  electron emission  basic plasma physics