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Automated electron temperature fitting of Langmuir probeI-Vtrace in plasmas with multiple Maxwellian EEDFs 期刊论文
PLASMA SCIENCE & TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 22
作者:  Yip, Chi-Shung;  Zhang, Wei;  Xu, Guosheng;  Hershkowitz, Noah
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EEDF  Langmuir probes  plasma diagnostics  
Experimental investigation of sheath effects on I-V traces of strongly electron emitting probes 期刊论文
PLASMA SOURCES SCIENCE & TECHNOLOGY, 2020, 卷号: 29
作者:  Yip, Chi-Shung;  Jin, Chenyao;  Zhang, Wei;  Xu, Guo Sheng;  Hershkowitz, Noah
收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2020/11/26
sheaths  plasma diagnostics  electron emission  basic plasma physics