×
验证码:
换一张
忘记密码？
记住我
切换中国科技网通行证登录
×
切换中国科技网通行证登录
登录
中文版
|
English
中国科学院合肥物质科学研究院机构知识库
Knowledge Management System of Hefei Institute of Physical Science，CAS
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
资助项目
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
作者
高理升 [1]
发表日期
2009 [1]
语种
中文 [1]
出处
仪表技术与传感器 [1]
资助项目
资助机构
收录类别
CSCD [1]
摘要
文献类型
期刊论文 [1]
×
知识图谱
HFCAS OpenIR
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条，第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页：
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式：
请选择
发表日期升序
发表日期降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
提交时间升序
提交时间降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
厚膜电容微位移传感器的非线性误差分析
期刊论文
仪表技术与传感器, 2009, 卷号: 000
作者:
张早春
;
马以武
;
高理升
收藏
|
浏览/下载：43/0
|
提交时间：2020/11/25
电容
位移检测
挠性形变
