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Monte Carlo simulation study of reflection electron energy loss spectroscopy of an Fe/Si overlayer sample 期刊论文
SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS, 2020
作者:  Da, Bo;  Yang, Lihao;  Liu, Jiangwei;  Li, Yonggang;  Mao, Shifeng;  Ding, Zejun
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interface excitation  Fe  Si overlayer  Monte Carlo  REELS  surface excitation  
Integrations and challenges of novel high-k gate stacks in advanced CMOS technology 期刊论文
PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE, 2011, 卷号: 56, 期号: 5
作者:  He, G;  Zhu, LQ;  Sun, ZQ;  Wan, Q;  Zhang, LD
Adobe PDF(8214Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：448/168  |  提交时间：2012/07/11