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Baking-temperature-modulated optical and electrical properties of HfTiOx gate dielectrics via sol-gel method 期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2016, 卷号: 688, 期号: 无, 页码: 925-932
作者:  Jin, P.;  He, G.;  Wang, P. H.;  Liu, M.;  Xiao, D. Q.;  Gao, J.;  Chen, H. S.;  Chen, X. S.;  Sun, Z. Q.;  Zhang, M.;  Lv, J. G.;  Liu, Y. M.
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High-k Gate Dielectrics  Hftiox Thin Films  Sol-gel Processing  Optical Properties  Electrical Properties  
Microstructure, optical, electrical properties, and leakage current transport mechanism of sol-gel-processed high-k HfO2 gate dielectrics 期刊论文
CERAMICS INTERNATIONAL, 2016, 卷号: 42, 期号: 6, 页码: 6761-6769
作者:  Jin, Peng;  He, Gang;  Xiao, Dongqi;  Gao, Juan;  Liu, Mao;  Lv, Jianguo;  Liu, Yanmei;  Zhang, Miao;  Wang, Peihong;  Sun, Zhaoqi
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High-k Gate Dielectrics  Sol-gel  Electrical Properties  Leakage Current Transport Mechanism  Optical Properties  
Evolution of interface chemistry and dielectric properties of HfO2/Ge gate stack modulated by Gd incorporation and thermal annealing 期刊论文
AIP ADVANCES, 2016, 卷号: 6, 期号: 2, 页码: 1-7
作者:  He, Gang;  Zhang, Jiwen;  Sun, Zhaoqi;  Lv, Jianguo;  Chen, Hanshuang;  Liu, Mao
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