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Measurement of impurity lines with two-crystal x-ray spectrometers on EAST 期刊论文
PLASMA SCIENCE & TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 20, 期号: 12, 页码: 8
作者:  Yang, Xinshuai;  Hu, Ruiji;  Chen, Jun;  Wang, Fudi;  Fu, Jia;  Li, Yingying;  Zhang, Hongming;  Shen, Yongcai;  Yin, Xianghui;  Lyu, Bo
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plasma diagnostics  x-ray two-crystal spectrometer  Doppler broadening  dielectronic satellite