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统计范围: 条目【Annealing temperature dependence on the structural and optical properties of sputtering-grown high-k HfO2 gate dielectrics】
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统计结果
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按年统计
年份 访问量 下载量
2018 2 2
2019 14 12
2020 2 2
2021 1 1
2022 6 5
2023 9 7
2024 7 3
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